| starshine |
2008-03-04 10:18 |
第一节 金相显微镜 GyPN)!X@.&
!yI)3;$*
前面讲述了显微镜的光学原理以及附件，下面将分类介绍一下各类研究用镜检术。在材料研究领域，反射式明场显微镜得到广泛应用，在此基础上各种特殊的镜检方法也得到应用，如暗场，偏光，相衬，干涉，荧光，这些镜检方法在高档显微镜上均能同时实现。 7:j #1N[p
一． 明视野观察（Bright field） \ 4p<;$'
5~"=Fm<uD
明视野镜检是大家比较熟悉的一种镜检方式，广泛应用于病理、检验，用于观察被染色的切 片，所有显微镜均能完成此功能。在此不再赘述。 z0W+4meoH
|B`tRq
二． 暗视野观察（Dark field） %ej"Z eM
tQ}gBE63
暗视野实际是暗场照明。它的特点和明视野不同，不直接观察到照明的光线，而观察到的是被检物体反射或衍射的光线。因此，视场成为黑暗的背景，而被检物体则 呈现明亮的像。暗视野的原理是根据光学上的丁道尔现像，微尘在强光直射通过的情况下，人眼不能观察，这是因为强光绕射造成的。若把光线斜射它，由于光的反 射，微粒似乎增大了体积，为人眼可见。暗视野观察所需要的特殊附件是暗视野聚光镜。它的特点是不让光束由下至上的通过被检物体，而是将光线改变途径，使其 斜射向被检物体，使照明光线不直接进入物镜，利用被检物体表面反射或衍射的光形成明亮图像。暗视野观察的分辨率远高于明视野观察，最高达0.02— 0.004mm。 4QV d{
N R[mzJv
三．相衬镜检法（Phase contrast） 5k(#kyP
zXC In
在光学显微镜的发展过程中，相衬镜检术的发明成功，是近代显微镜技术中的重要成就。我们知道，人眼只能区分光波的波长（颜色）和振幅（亮度），对于无色通明的生物标本，当光线通过时，波长和振幅变化不大，在明场观察时很难观察到标本。 ;hZ@C!S :
A{o{o++
相衬显微镜利用被检物体的光程之差进行镜检，也就是有效地利用光的干涉现像，将人眼不可分辨的相位差变为可分辨的振幅差，即使是无色透明的物质也可成为清晰可见。这大大便利了活体细胞的观察，因此相衬镜检法广泛应用于倒置显微镜。 I^|bQ3sor
]\e zES
1. 相衬镜检法在装置上与明场不同，有一些特殊要求： o <'gM]$
7A|jnm
( 1 )． 环状光阑（Ring slit）： 装在聚光镜的下方，而与聚光镜组合为一体——相衬聚光镜。它是由大小不同的环形光阑装在一圆盘内，外面标有10X、20X、40X、100X等字样，与相对应倍数的物镜配合使用。 yEny2q}
,i ,=LGn
( 2 )． 相板（Phase plate）： 装在物镜的后焦平面处，它分为两部分，一是通过直射光的部分，为半透明的环状，叫共轭面；另一是通过衍射光的部分，叫“补偿面”。有相板的物镜称“相衬物镜”，外壳上常有“Ph”字样。 D RIv<=Bt
NE4fQi?3
2. 相衬镜检法是一种比较复杂的镜检方法，想要得到好的观察效果，显微镜的调试非常重要。除此之外还应注意以下几个方面。 %dU }GYL_
p{J_d,JH
( 1 )． 光源要强，全部开启孔径光阑； Vwqfn4sx?i
^Bb_NcU
( 2 )． 使用滤色片，使光波近于单色； GT.^u#r
>`uS NY"tO
四．微分干涉相衬镜检术（Differential interference contrast DIC） 8#Z5-",iw
80EY7#r@w
微分干涉相衬镜检术出现于60年代，它不仅能观察无色透明的物体，而且图像呈现出浮雕壮的立体感，并具有相衬镜检术所不能达到的某些优点，观察效果更为逼真。 dW`D?$(@,
Uk2q,2
1． 原理 zef,*dQY
D+3Y.r 9
微分干涉相衬镜检术是利用特制的渥拉斯顿棱镜来分解光束。分裂出来的光束的振动方向相互垂直且强度相等，光束分别在距离很近的两点上通过被检物体，在相位上略有差别。由于两光束的裂距极小，而不出现重影现像，使图像呈现出立体的三维感觉。 GXRjR\Ch
K5lp -F
2． 微分干涉相衬镜检术所需的特殊部件： {\&"I|dpe
c$|dK
（1） 起偏镜 NHF?73:
*La =7y :
（2） 检偏镜 ,f+5x]F?m
"/fs %F
（3） 渥拉斯顿棱镜2 块 TH!8G,(w
2~DPq p[
3． 微分干涉镜检时的注意事项 (r4VIlap
Fzs'@*
（1）因微分干涉相衬灵敏度高，制片表面不能有污物和灰尘。 \ c&)8.r
03 o3[g?
（2）具有双折射性的物质，不能达到微分干涉相衬镜检的效果。 m4wTg
8LJ
'[8b0\
（3）倒置显微镜应用微分干涉相衬时，不能用塑料培养皿。 rk |(BA
,<^HB+{Wo
五 . 荧光镜检术 BfT,
A*~1 Uz\t
荧光镜检术是用短波长的光线照射用荧光素染色过的被检物体，使之受激发后而产生长波长的荧光，然后观察。荧光镜检术广泛应用于生物，医学等领域。 H| U/tU-
)X;cS}
yp
1．荧光镜检术一般分为透射和落射式两种类型。 J\'5CG
Zbh]O CN
（1）透射式：激发光来自被检物体的下方，聚光镜为暗视野聚光镜，使激发光不进入物镜，而使荧光进入物镜。它在低倍情况下明亮，而高倍则暗，在油浸物镜下较难操作，尤以低倍的照明范围难于确定，但能得到很暗的视野背景。透射式不适用于非透明的被检物体。 Ne7{{ 1
R
TUNha^<T
（2）落射式：透射式目前几乎被淘汰，新型的荧光显微镜多为落射式，光源来自被检物体的上方，在光路中具有分光镜，所以对透明和不透明的被检物体都适用。由于物镜起了聚光镜的作用，不仅便于操作，而且从低倍到高倍，可以实现整个视场的均匀照明。 mN
6`8
[
c$kb0VR
2．荧光镜检术的注意事项 ^&H=dYcV>/
i q:Q$z&
（1） 激发光长时间的照射，会发生荧光的衰减和淬灭现像，因此尽可能缩短观察时间，暂时不观察时，应用挡板遮盖激发光。 +~ Ay h[V
~+egu89'TU
（2）作油镜观察时，应用“无荧光油”。 QCfpDE}
bTGK@~
（3）荧光几乎都较弱，应在较暗的室内进行。 je4&'vyU
f<:U"E .
（4）电源最好装稳压器，否则电压不稳不仅会降低汞灯的寿命，也会影响镜检的效果。 s@LNQ|'kO
X,+}syK
目前许多新兴生物研究领域应用到荧光显微镜，如基因原位杂交（FISH）等等。 dm=F:\C
@:9fS
-Q PWi2:k
(mIJI,[xn
第二节 偏光显微镜（Polarizing microscope ） chm J |
B8AzN9v&"N
一．偏光显微镜的特点 |QOJ9~hxD
@ ) ZO$h
偏光显微镜是鉴定物质细微结构光学性质的一种显微镜。凡具有双折射的物质，在偏光显微镜下就能分辨清楚，当然这些物质也可用染色发来进行观察，但有些则不 可能，而必须利用偏光显微镜。偏光显微镜的特点，就是将普通光改变为偏光进行镜检的方法，以鉴别某一物质是单折射（各向同行）或双折射性（各向异性）。双 折射性是晶体的基本特性。因此，偏光显微镜被广泛地应用在矿物，化学等领域。在生物学和植物学也有应用。 [Cqqjv;_
#S%Y; ilq
二．偏光显微镜的基本原理 asN
}
p
<= %
偏光显微镜的原理比较复杂，在此不作过多介绍,偏光显微镜必须具备以下附件（a）起偏镜 （b）检偏镜 （c）专用无应力物镜 （d）旋转载物台。 !u { "] T:
w<e;rKr
三． 偏光镜检术的方式 Q!Ow{(|
!LIfeL.4h
（一） 正相镜检（Orthscope）：又称无畸变镜检，其特点是使用低倍物镜，不用伯特兰透镜（Bertrand Lens）,同时为使照明孔径变小，推开聚光镜的上透镜。正相镜检用于检查物体的双折射性。 YB
B$uGA
rk,1am:cg
（二） 锥光镜检（Conoscope）：又称干涉镜检，这种方法用于观察物体的单轴或双轴性。 R: OU>HsdX
^I<T+X+<
四． 偏光显微镜在装置上的要求 j8 Q5d`
#;LMtDaL
（一） 光源：最好采用单色光，因为光的速度，折射率，和干涉现像因波长的不同而有差异。一般镜检可使用普通光。 Kq 4<l
pl x/}ah8
（二） 目镜：要带有十字线的目镜。 )s< WG}
EKeh>3;?
（三） 聚光镜：为了取得平行偏光，应使用能推出上透镜的摇出式聚光镜。 P%@rH@^Y
CLY6 YB' R
（四） 伯特兰透镜：这是把物体所有造成的初级相放大为次级相的辅助透镜。 " Z 2 Tc)
\q|7,S,5
五． 偏光镜检术的要求 Bf:tal6 -M
g"]<J &
（一） 载物台的中心与光轴同轴。 AuDR |;i
:#w+?LA*
（二） 起偏镜和检偏镜应处于正交位置。 ]LBvYjMY
*$L z2 ]
（三） 制片不宜过薄。 |3, yq^2
,t%CK!8
Vv]$\`d#
|Sr\jUIWn
第三节 体视显微镜（Stereo microscope） 2 rO)qjiH
J7ktfyQ0W
体视显微镜又称“实体显微镜”或“解剖镜”，是一种具有正像立体感地目视仪器，被广泛地应用于生物学、医学、农林、工业及海洋生物各部门。它具有如下地特点： ,.o a,sku
PPC Tc|G
1． 双目镜筒中的左右两光束不是平行，而是具有一定的夹角——体视角（一般为12度---15度），因此成像具有三维立体感； Y$x"4=~
y
Tw',N{
2． 像是直立的，便于操作和解剖，这是由于在目镜下方的棱镜把像倒转过来的缘故； tCbr< Ug
I[=Wmxa?r
3． 虽然放大率不如常规显微镜，但其工作距离很长 AGEZ8(h
+2EHmuJ;
4． 焦深大，便于观察被检物体的全层。 : _^0'ULP
?..i 4
5． 视场直径大。
|
|
