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要如何使用倾斜的detector看到不同周期的干涉条纹 O+nEXS\rQ
@T@<_ ?)
这边有一个Michelson Interferometer, 55G+;
JL`-0P<M
我试着调整DETECTOR的角度, 但它记录到的影像都一样, 5A,K6f@:g
el&0}`K
照理来说调整DETECTOR角度的话干涉条文应该会一边粗一边细周期不一, \J4L:.`qS
%{7|1>8
但我这里无法看到, }V'}E\\
3>3 Kwc~E
请问该如何处理呢, 0$(WlP|
gK+4C
下面是程式 d}OTO10
#?RU;1)Cw
--------------------------------------------------------------- Mhm@R@
SYSTEM NEW FK^p")i
RESET \|n-
O=}=2
gx-2v|pZ
UNITS CENTIMETERS [ieI;OG;
WAVELENGTH 632.8 NANOMETERS #F:p-nOq
Oylf<&knF\
WL=632.8E-7 goLL;AL
PI=4*ATAN(1) oF vfCrd
hl;u'_AB
COATING PROPERTIES @Rg/~\ K
0.0 0.0 'ABSORB' c|f<u{'
0.0 1.0 'TRANSMIT' 0}<