1.OptiLayer 软件包括三个模块,它们共用一个数据 库,能够轻松的实现数据交换: \$gA2r
• OptiLayer:设计,评估,预生产误差分析, 生产过程监控及实现计算制造; |<uBJ-5
• OptiChar:基于分光光度计及椭偏仪检测数 据,分析膜层光学特性; i9T<(sdK+
• OptiRE:基于检测数据,对已镀制膜层反演 分析计算。 v<mSd2B*
2.OptiLayer 采用了最新的软件设计理念,其独树一帜的核心算法具有极高的专业水准: .eyJ<b9
• OptiLayer 可在计算机上流畅的运行; Y&bO[(> 1
• OptiLayer 具有良好的用户界面,易于使用; v4Kf{9q#
• 程序安装简便,安装过程只需数分钟; $UpWlYwG
• OptiLayer 带有上下文关联的帮助系统以及高阶用户手册; $lAdh
• 安装包含有一系列设计实例,它能够快速的让用户掌握 OptiLayer 的设计理念; ;jBS:k?
• 安装包包含基底及膜层材料目录。 uG-S$n"7K
OptiLayer 计算制造选项能够评估预期的生产率,并且揭示了哪些膜层对成功的生产比较关键,需要严格控制。 s|X_:3\x
在计算制造试验过程中,可以仿真那些由于沉积工艺造成的典型误差因素。这些因素包括: 86a,J3C[
• 不稳定的沉积速率, Zqb*-1Qw"*
• 在膜层沉积收尾阶段产生的随机和系统误差(闸门延迟) MeAY\V%G=o
• 膜层在沉积仓内的折射率和理论值的偏差 hBhbcWD,ka
• 与波长相关的折射率偏差 t. DnF[
• 沉积层的不均匀性 +{#Z^y6&
• 在线测量的噪声影响 !>/J]/4>
• 监控信号的实时波动, ja(ZJ[<`
• 监控设备的校准偏差。 9WV8ZP
需要可联系交流。 a %?v/Ku
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