切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • ZEMAX光学系统设计实战 Zemax光学设计从基础到实践 成像衍射光学元件设计及应用 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 217阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    5302
    光币
    20742
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-10
    摘要 C33RXt$X  
    4X>=UO``L  
     'W~6-c9y  
    n3s  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 zogl2e+  
     )hfI,9I~  
    建模任务 sz4;hSTy  
    l?x'R("{  
     |W|RX3D  
    [*Vo`WgbD  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 u#$sO;8s  
    !XF:.|  
     ?T'a{ ~]R  
    R^JtWjJR  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 OX{2@+f#  
    h)X"<a++N  
     qtS+01o  
    8fb<hq<  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表