中科飞测“光学检测系统”专利公布

近日，据国家知识产权局公告，深圳中科飞测科技股份有限公司申请一项名为“光学检测系统”发明专利，申请公布号CN117433427A，申请日期为2023-07-21。

专利摘要显示，本发明实施例提供的一种光学检测系统，包括：光源、调整模块、第一检测模块、第二检测模块和采集模块。所述光源用于产生或引入测量用光。所述调整模块用于调整光线。所述第一检测模块和所述第二检测模块用于对光线进行扩束整形。并且第二检测模块的扩束整形能力强于所述第一检测模块的扩束整形能力。所述采集模块可以采集光学数据。本发明实施例具有测量精度高、倍率调节区间大的特点。

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