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摘要
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6Z"X}L,* x[e<} 8'$( 衍射式分束器被广泛用于光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射光线的角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。 VI*$em O0 qIT@g"%}t 建模任务 7@W>E;go (#c:b
vnuN6M{ EfT=? 微结构 dSHDWu& b&U62iq
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ZbKg~jdF ]7A'7p$Y 反射型分光器是由Microstructure组件建模的。它可以在Components > Single Surface & Stack下找到。关于该组件的更多信息可以在以下栏目中找到: <N~K;n
v ;!Fn1|) 衍射光学元件(DOE)和微结构组件 5|)W.*Q =Dj#gV 微结构组件的配置 %8v\FS B%68\
]6j{@z?{ kyV8K#}%8 - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。 Zv{'MIv&v - 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。 1_G^w
qk - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。 P.DK0VgY - 用于通过堆栈传播的精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。 (/$^uWj }x,S%M- 总结-组件… {{!-Gr :Zlwy-[
Q/Rqa5LI: 1xvu<|F uXiN~j &Be |I=T@1_D 监测器平面上的衍射图案 kq-) ^,{y t6t!t*jO
DHRlWQox &7s.` 监测器平面上的衍射图案 lU]nd[x m4Zk\,1m.|
~}Pfu %
]U 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。 %z$#6?OK^ Dha1/g1q 高度缩放调制 "J1
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yt2PU_), U$UIN# 探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 1Z&(6cDY8M XK vi=0B
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!e ,]D,P VirtualLab Fusion技术 19] E 5'AI }-2|XD%]
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