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摘要 d
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WXJ%bH i`X/d= 衍射式分束器被广泛用于光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射光线的角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。 ?(E$|A fi1tF/` 建模任务 {`{U\w5Af Z5v\[i@H!
|A"zxNeS" emTqbO 微结构 }e1f kjWk zh7NXTzyf
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U1I2+;"#A g$uj<"^ 反射型分光器是由Microstructure组件建模的。它可以在Components > Single Surface & Stack下找到。关于该组件的更多信息可以在以下栏目中找到: F6yMk% \\6/" 衍射光学元件(DOE)和微结构组件 gd2cwnP |'.\}xt7 微结构组件的配置 G/b
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~> - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。 _pL:dKfy7 - 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。 T$!.
:v - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。 A3MVNz$wo" - 用于通过堆栈传播的精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。 jruwdm^ 4/cUd=>Z 总结-组件… b0t/~]9G T-0fVTeN
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ll]\| n' &:c}zKO 监测器平面上的衍射图案 5*C#~gd&F RAPR-I;{
4+Wti!s @w?hXK= 监测器平面上的衍射图案 M$
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w6aq/m"' bu$YW' 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。 O!#r2Y"?K1 @#rF8; 高度缩放调制 "dQ02y @p"m{
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探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 EZypqe):/C E+)3n[G
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