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摘要 6Ol9P56j sei2\l8q
)TKn5[<4 l GBg8/[ 衍射式分束器被广泛用于光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射光线的角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。 p:K%-^ O`@-
b# 建模任务 N_S~&(I| .)_2AoT7[
IVkB)9IW vy 7/ 微结构 1DhC,)+D}q RRB=JP{r
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反射型分光器是由Microstructure组件建模的。它可以在Components > Single Surface & Stack下找到。关于该组件的更多信息可以在以下栏目中找到: # =tw
,S gBi3^GxjM? 衍射光学元件(DOE)和微结构组件 eBs.RR
]O y(MB_B7j 微结构组件的配置 xOAq!,|V <R;wa@a>
e,VF;Br 5h`L W AB - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。 Btm_S\1 - 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。
-{ 1P`&G - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。 @ci..::5 - 用于通过堆栈传播的精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。 VXWV Pj# vdAd@Z~\ 总结-组件… ruvfp_: !C05;x8{
+(92}~RK N`,\1hHMT kx?Yin8K +:-xV 监测器平面上的衍射图案 Z|$DchC
iiMS3ueF
T|wz%P<J h=gtuaR4 监测器平面上的衍射图案 =>`zk^ v-d"dC`
!ess.U&m' Qd
kus214 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。 -5+Yz9pv[ >MN"87U6 高度缩放调制 xh$yXP0/ 2=n`z)R
xxvt<J t#|R"Q# 探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 Ca5#'3Eh P.@dB.Ny
~M{/cv [)s4:V VirtualLab Fusion技术 gmbRH5k 5l1R")0`t_
]"uG04"Vk `1(ED= |
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