价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 w]nX?S8
课程共三十节 #;]2= @
课程简介：
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I 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
`?"6l5d.] 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
+TH3&H5I_A 课程大纲：
?n.)&ZIx0 1. 软件基础入门
b HE7yv [ 软件简介
xST4 }Mb^f 软件计算方法简介
-p`L% xj\ 程序基本框架和全局
参数设置
=LI:S|[4 程序中使用的各种术语的定义
?DPHo)w 
v`x|]-/M& 2. 图表
=\ Iu$2r` 绘图和制表来表示性能
_\\ -md: 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
D<bI2 交互式绘图的使用
yzR=A%V8A 3. 材料管理
^/toz).Q 材料的获取
(Sv>NQp 材料的导入与导出
=xL )$DTg) 材料数据平滑与插值
jZd }O C< 用包络法推导介质膜的光学常数
'H|~u&? 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
w ^HjZV 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
9 |{%i$ 4. 薄膜设计与优化简介
w_Uh 优化与合成功能说明
RNWX.g )b 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
eh( <m8I 膜层锁定和链接
$sh p(T,q 减反膜优化
)K;]y- Us[ 高反膜优化
D/ /=m= 滤光片优化
#H~_K}Ks 斜入射光学薄膜
FJ5 4S 5. 反演工程
aC!EWgwW[ 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
UV AJxqz%} 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
dU_;2#3m 6. 分析工具
|quij0_'e 颜色模型和分析工具
=rFN1M/n{E 公差工具和良品率预估
p=Y>i 'CG 灵敏度分析
N|K4{Fr m 7. 附加模块-Vstack
vWjnI*6T# 非平行平面镀膜
%w
) +V 棱镜镀膜透反吞吐量评估
V5p0h~PK 8. 附加模块-DWDM
tU@zhGb 光通信用窄带滤光片
模拟 ^U@~+dw 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
t g\|? 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
}^%xvmQ\] 镀膜沉积过程噪声信号模拟
Z9K})47T 10. 附加模块-Function
?X9U TOx 如何在Function中编写脚本
:Ht; 0|[H 案例：自定义画图
r. yK, 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
@Jn!0Y1 _3 案例：膜厚变化颜色变化
