价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 cD6$C31Y]
课程共三十节 'w+T vOB
课程简介：
aF:_ 1. LC 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
8"a[W3b 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
/=x) 9J 课程大纲：
0ih=<@1 K 1. 软件基础入门
pZ /aZg1Ld 软件简介
1 )aB']K% 软件计算方法简介
N U*6MT4 程序基本框架和全局
参数设置
mis
cmD 程序中使用的各种术语的定义
+oY[uF 
7P`|wNq 2. 图表
)g9&fGYf 绘图和制表来表示性能
A| #9 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
n lsQf 3 交互式绘图的使用
Ly?gpOqu5 3. 材料管理
,%+i}H, 3 材料的获取
9=D\xBd|w 材料的导入与导出
-d+q +l>0 材料数据平滑与插值
g4 WN+y` 用包络法推导介质膜的光学常数
|0?h6 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
8_MR7'C1hi 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
"CdL? ( 4. 薄膜设计与优化简介
n"dC]&G' 优化与合成功能说明
-hf)%o$ 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
yWa-iHWC 膜层锁定和链接
5-Vd q 减反膜优化
Kr !(<i 高反膜优化
- X ~VXeg 滤光片优化
p/B &R@% 斜入射光学薄膜
\gRX:i#n 5. 反演工程
y K ~;LV 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
/O1r=lv3Z 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
#A l.Itj 6. 分析工具
W8Z&J18AU 颜色模型和分析工具
m$xL#omD 公差工具和良品率预估
48CLnyYiF 灵敏度分析
`}ak;^Me 7. 附加模块-Vstack
7z'l}*FRD 非平行平面镀膜
< @9p|[! 棱镜镀膜透反吞吐量评估
'dYjbQ}~; 8. 附加模块-DWDM
#pbPaRJL( 光通信用窄带滤光片
模拟 P
a gzp%m 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
\} Jy=[ 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
kAbRXID 镀膜沉积过程噪声信号模拟
<N11$t&_ 10. 附加模块-Function
8B C F.y 如何在Function中编写脚本
PW"G]G, 案例：自定义画图
2]n"7Z8(v8 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
$9dm2#0d 案例：膜厚变化颜色变化
