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通常需要在设计中表示光学系统,即使您没有详细的处方数据,如曲率半径、眼镜等。本文展示了如何使用 Zernike 系数来描述系统的波前像差,并在无法使用 Zemax 黑匣子表面文件的情况下生成光学系统的简单但准确的表示。如果您依赖于使用光学系统测量的实验数据,但您无法获得其处方数据,则通常会出现这种情况。(联系我们获取文章附件) q%/ciPgE 0tzMu# 介绍 nKoc%TNqe -bq\2Yc$] 有时需要表示光学子系统,而不详细了解其处方。对于一阶计算,近轴透镜就足够了,但是当也需要波前像差时,可以使用Zernike相位系数来提供光学系统产生的波前的精确模型。 E7*z.3 &;)6G1X1 u}[Z=V OpticStudio支持全面的黑盒功能,建议用于此目的。但是,如果无法提供 Zemax 黑匣子文件,则可以使用以下过程。 _DAAD,'<a :h|nV
~ D-zqu~f` 泽尼克相位数据 ) $wX~k p4|Zz:f 如果您想在不透露处方数据的情况下将像差数据分发给客户,则可以由 OpticStudio 生成这些 Zernike 相位系数,或者如果您正在测量没有处方数据的镜头,则可以通过干涉仪生成。根据您的干涉仪软件,您可能已经拥有OpticStudio Zernike格式的数据,网格相位数据或.INT文件。OpticStudio可以处理所有这些,但在本文中,我们将仅使用Zernike数据。 b;[u=9ez "I|[m%\ 3j2% '$>E^ Zernike相位数据表示光学系统在特定场和特定波长下性能的测量。因为有关玻璃、曲率半径、非球面系数等的信息。不是 Zernike 数据的一部分,无法将 Zernike 数据缩放到不同的场或波长。因此,对于要模拟性能的每个(场、波长)对,您将需要一组 Zernike 相位数据。这些可以通过为每个(场,波长)组合提供一个单独的文件或(更有可能)为每个(场,波长)对提供单独的配置来输入OpticStudio。 wN])"bmB X5@rPGc 有一个重要的例外:当被建模的系统是全反射系统时,可以使用Zernike标准SAG表面来模拟给定场点的所有波长下的性能。下一期将详细介绍此特殊情况。 <.d0GD`^ &UWSf 起始设计 Tk'YpL#U *+E9@r=HF 本文中使用的所有示例文件都包含在一个 zip 文件中,可以从本文顶部的链接下载该文件。我们将要看的第一个文件是“Cooke one field, one wavelength.zmx”,它基于 OpticStudio 分发的 Cooke 三元组示例文件。顾名思义,此文件基于单个(场,波长)对。 k($N_XlE Cu%|}xq CVi3nS5Yl 它的波前看起来像这样: @nJ#kd[ R ks3L >,8DwNuq 它的光斑大小是这样的: 27;t,Oq} @Y#{[@Hp% l6X\.oI ~D4%7U"dv 现在,泽尼克系数是描述光学系统产生的波前误差的紧凑方法。为了产生“黑匣子”模型,我们必须首先生成具有相同一阶特性的近轴光学系统,然后用Zernike数据像差该近轴系统产生的波前。 >Fzu]G4] o
<lS90J 我们需要的关键近轴数据是出口瞳孔位置和出口瞳孔直径。所有波前数据都是在出射瞳孔中测量的,因此我们的黑匣子系统必须具有相同的瞳孔数据。对于此文件,瞳孔数据如下所示: _Z:WgO]. 出口瞳孔直径 = 10.2337 mm (i,TxjS'od 出口瞳孔位置 = -50.9613 mm pvJsSX /&>6#3df- 近轴当量 \pzqUTk ]JeA29 打开文件“Paraxis Equivalent.zmx”。它模拟了相同的系统,只有一个近轴透镜表面: 'w+T vOB `]^JOw5o NhxTSyT"t uC>X;<^ 请注意以下几点: 3B(6^iS ·它使用与原始设计相同的场和波长。 zL@ZNH ·其入射瞳孔直径设置为与原始系统的出射瞳孔直径相同的值。在此文件中,入射瞳孔、停止曲面和出射瞳孔都位于同一位置。 [T;0vv8 ·近轴透镜的焦距和到图像表面的厚度均设置为等于原始文件的-1*出瞳位置。-1因子是因为EXPP是从图像到瞳孔测量的,但表面厚度是从瞳孔到图像的距离,因此需要改变符号。 )w8h2=l ·系统具有与原始系统相同的一阶属性。 9:bC{n zY<=r.m4 m~fA=#l
l 该系统的出瞳与原始系统的出瞳大小完全相同,位置相同。为了在近轴透镜输出上添加像差,我们在近轴透镜之后使用Zernike标准相位表面。我们的目标是获取原始透镜的泽尼克系数,并将它们添加到近轴等效透镜的泽尼克表面上。 +h6cAqm] Rld1pX2v ,y[wS5li Q0f7gY1-% h Znq\p~ 在镜头之间复制泽尼克数据 1/Pou)D w.gI0` 返回“Cooke One Field One Wavelength.zmx”文件,然后单击“分析…波…泽尼克标准系数”。OpticStudio计算系统的波前,然后拟合一系列Zernike多项式。 m<>3GF,5bP ZB'/DO=i R=IZFwr 波前的采样和Zernike项的数量都可以由用户通过“设置”对话框定义。确定波前是否充分采样或泽尼克项数量的关键参数是RMS拟合误差和最大拟合误差。此设计使用采样和项数的默认参数,可提供 y>vr Uxgo _5vAnt* [N}:Di,S @N`) Z3P+ ocCC63J 这意味着,当我们从从泽尼克系数重建的波前中减去真实的波前时,误差是百万分之一波的数量级。这已经足够接近了!但是,一般来说,您可能需要调整波前采样和最大 Zernike 项才能达到可接受的拟合。 s[|sfqB1` \gRX:i#n 我们现在需要将泽尼克系数数据从这个设计转移到近轴等效设计中。这可以通过打印出 Zernike 数据并重新键入来完成,但这很乏味。对于宏来说,这是一个很好的工作。 a %"My;8 #Al.Itj 以下宏(也包含在文章附件中),称为Zernike Readout.zpl,从此镜头获取Zernike数据,并将其以Tools…在额外数据编辑器上导入数据可以读取。它经历的步骤如下: hL#5:~( >A#wvQl7 9 veq 首先,它定义了它需要的所有变量(L1-19)。 gaaW:* *y ! This macro writes out the Zernike standard coefficients Kc+;"4/#q ! of a lens file in a format that can be directly imported hPhNDmL#3 ! into the Extra data Parameters of a Zernike Standard Phase surface 3jIi$X06 ! First define the variables we need #pbPaRJL( ! Enter whatever values are appropriate P
agzp%m ! Use INPUT statements if you prefer k=2]@K$% max_order = 37 # can be up to 231 kAbRXID sampling = 2 #sampling is 1 for 32×32, 2 for 64×64 etc " d3pkY field = 1 &A |