通常需要在设计中表示光学系统,即使您没有详细的处方数据,如曲率半径、眼镜等。本文展示了如何使用 Zernike 系数来描述系统的波前像差,并在无法使用 Zemax 黑匣子表面文件的情况下生成光学系统的简单但准确的表示。如果您依赖于使用光学系统测量的实验数据,但您无法获得其处方数据,则通常会出现这种情况。(联系我们获取文章附件) bjS{(
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介绍 A(N4N
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有时需要表示光学子系统,而不详细了解其处方。对于一阶计算,近轴透镜就足够了,但是当也需要波前像差时,可以使用Zernike相位系数来提供光学系统产生的波前的精确模型。 cGD(.=
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;=UsAB]
OpticStudio支持全面的黑盒功能,建议用于此目的。但是,如果无法提供 Zemax 黑匣子文件,则可以使用以下过程。 HorDNRyu
kNL\m[W8$
WN<zkM~3
泽尼克相位数据 Xry47a
)
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如果您想在不透露处方数据的情况下将像差数据分发给客户,则可以由 OpticStudio 生成这些 Zernike 相位系数,或者如果您正在测量没有处方数据的镜头,则可以通过干涉仪生成。根据您的干涉仪软件,您可能已经拥有OpticStudio Zernike格式的数据,网格相位数据或.INT文件。OpticStudio可以处理所有这些,但在本文中,我们将仅使用Zernike数据。 Ca3~/KrM
PxE3K-S)G
L_s:l9!r
Zernike相位数据表示光学系统在特定场和特定波长下性能的测量。因为有关玻璃、曲率半径、非球面系数等的信息。不是 Zernike 数据的一部分,无法将 Zernike 数据缩放到不同的场或波长。因此,对于要模拟性能的每个(场、波长)对,您将需要一组 Zernike 相位数据。这些可以通过为每个(场,波长)组合提供一个单独的文件或(更有可能)为每个(场,波长)对提供单独的配置来输入OpticStudio。 8.~kK<)!
0|b>I!_"g
有一个重要的例外:当被建模的系统是全反射系统时,可以使用Zernike标准SAG表面来模拟给定场点的所有波长下的性能。下一期将详细介绍此特殊情况。 Q5_o/wk
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起始设计 Tb-F]lg$
JMM W
本文中使用的所有示例文件都包含在一个 zip 文件中,可以从本文顶部的链接下载该文件。我们将要看的第一个文件是“Cooke one field, one wavelength.zmx”,它基于 OpticStudio 分发的 Cooke 三元组示例文件。顾名思义,此文件基于单个(场,波长)对。 MJrR[h]
Tac$LS\Q
<^uBoKB/f
它的波前看起来像这样: ],v=]+R
RX5dO%
IqGdfL6[(
它的光斑大小是这样的: r"R#@V\'1b
d`6 'Z
a@*\o+Su
I`p;F!s
现在,泽尼克系数是描述光学系统产生的波前误差的紧凑方法。为了产生“黑匣子”模型,我们必须首先生成具有相同一阶特性的近轴光学系统,然后用Zernike数据像差该近轴系统产生的波前。 "wHFN>5B
@OHm#`~
我们需要的关键近轴数据是出口瞳孔位置和出口瞳孔直径。所有波前数据都是在出射瞳孔中测量的,因此我们的黑匣子系统必须具有相同的瞳孔数据。对于此文件,瞳孔数据如下所示: BF <ikilR
出口瞳孔直径 = 10.2337 mm ]$_NyAoBb
出口瞳孔位置 = -50.9613 mm &!
?eL
y^%y<~f
近轴当量 >dG[G>
e 3TI|e_
打开文件“Paraxis Equivalent.zmx”。它模拟了相同的系统,只有一个近轴透镜表面: BVO<e \>3
#C3.Jef
09Cez\0
O1mKe%'|
请注意以下几点: WeiFmar
·它使用与原始设计相同的场和波长。 >e"#'K0?\
·其入射瞳孔直径设置为与原始系统的出射瞳孔直径相同的值。在此文件中,入射瞳孔、停止曲面和出射瞳孔都位于同一位置。 N8FF3}>
g
·近轴透镜的焦距和到图像表面的厚度均设置为等于原始文件的-1*出瞳位置。-1因子是因为EXPP是从图像到瞳孔测量的,但表面厚度是从瞳孔到图像的距离,因此需要改变符号。 VU d\QR-
·系统具有与原始系统相同的一阶属性。 xF44M]i
&JI8]JmU)
_#h_:
该系统的出瞳与原始系统的出瞳大小完全相同,位置相同。为了在近轴透镜输出上添加像差,我们在近轴透镜之后使用Zernike标准相位表面。我们的目标是获取原始透镜的泽尼克系数,并将它们添加到近轴等效透镜的泽尼克表面上。 1y4
7Rt9od<
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k)Qtfj}uij
E+w<RNBmz
H'hpEwG
在镜头之间复制泽尼克数据 xK\d4"
j,dR,N d
返回“Cooke One Field One Wavelength.zmx”文件,然后单击“分析…波…泽尼克标准系数”。OpticStudio计算系统的波前,然后拟合一系列Zernike多项式。 iW /}#
$ DSZO!pB
,nB5/Lx
波前的采样和Zernike项的数量都可以由用户通过“设置”对话框定义。确定波前是否充分采样或泽尼克项数量的关键参数是RMS拟合误差和最大拟合误差。此设计使用采样和项数的默认参数,可提供 <3hRyG@vB
& 9 ?\b7
/Mu@,)''
.h4 \Y A
46&/gehr
这意味着,当我们从从泽尼克系数重建的波前中减去真实的波前时,误差是百万分之一波的数量级。这已经足够接近了!但是,一般来说,您可能需要调整波前采样和最大 Zernike 项才能达到可接受的拟合。 *ppffz
s}% M4
我们现在需要将泽尼克系数数据从这个设计转移到近轴等效设计中。这可以通过打印出 Zernike 数据并重新键入来完成,但这很乏味。对于宏来说,这是一个很好的工作。 >s?S+W[L
`lt"[K<
以下宏(也包含在文章附件中),称为Zernike Readout.zpl,从此镜头获取Zernike数据,并将其以Tools…在额外数据编辑器上导入数据可以读取。它经历的步骤如下: 2V;PYI
OH(waKq2I
-pXSSa;O9
首先,它定义了它需要的所有变量(L1-19)。 ?m?::R H
! This macro writes out the Zernike standard coefficients Ak"m 85B
! of a lens file in a format that can be directly imported r?
E)obE
! into the Extra data Parameters of a Zernike Standard Phase surface uGEfIy 2
! First define the variables we need ah+iZ}E%
! Enter whatever values are appropriate BKjS ,2C
! Use INPUT statements if you prefer ^RtIh-Z.9
max_order = 37 # can be up to 231 o$lM$E:
sampling = 2 #sampling is 1 for 32×32, 2 for 64×64 etc lv+TD!b
field = 1 cq/$N
wavelength = 1 @7j AL -
zerntype = 1 # Get standard, not fringe or Annular coefficients "u^H#L>-q
epsilon = 0 # only used for Annular Zernike coefficients 6MMOf\
reference = 0 # reference to the chief ray <T|3`#o0
vector = 1 # use the built-in VEC1 array to store the data &AbNWtCV+G
output$ = “zernike.dat” !NvI:C_4|
path$ = $PATHNAME() # save the data in the same location as the file we are using oEKvl3Hz_
file$ = path$ + “\” + output$ U0N 60
PRINT “Writing data to “, file$ }oGA-Qc}B
"]b<uV
(请注意,采样和最大 Zernike 项应设置为您用于上述 Zernike 分析的值。然后,宏获取出口瞳孔直径和 Zernike 数据 (L21-27): FSW_<%
! Then get the Exit Pupil Diameter. Use VEC1 to store the data
DwE[D]7o
GETSYSTEMDATA 1 S2GxV/E
EXPD = VEC1(13) # see the manual for the data structure F%D.zvKN
normalization_radius = EXPD/2 ]*[ 2$
! Then get the Zernike coefficients up to the maximum required order ~;{;,8!)
GETZERNIKE max_order, wavelength, field, sampling, vector, zerntype, epsilon, reference ]R f[y
GM f
`A,>
请注意,泽尼克曲面的归一化半径是出口瞳孔直径的一半。然后,宏将数据打印到 .DAT 文件的正确格式,以便 Zernike 标准相表面读取它 (L29-43): MXNFlP
V7fq4O^:
! Then write them out to file in the format needed for the Import Tool DKJmTH]rUg
OUTPUT file$ A1>OY^p3%
FORMAT 1 INT %%gc2s
PRINT max_order
>rKIG~P_
FORMAT 9.8 CxO ob1@
PRINT normalization_radius Jgd'1'FOs
FOR order = 1, max_order, 1 co|aC!7
z_term = order + 8 # offset to the correct location in the data structure, see manual! 9} M?P
PRINT VEC1(z_term) W_(j3pV?Ml
NEXT order ARwD~Tr
OUTPUT SCREEN tq6!`L }3
! End 0e ~JMUb
PRINT “Program End” ;m{1_ 1
END jc[Y}gd,
-Xm'dwm
Zernike 数据输入到“Zernike 标准相”曲面的“参数”列中,如下所示: vJc- 6EO
']z{{UNUN
gS]@I0y8
.
将此宏放入 {Zemax}/宏文件夹中,单击编程…ZPL宏…刷新列表,以便宏显示在菜单列表中,然后运行它。它将在与原始OpticStudio文件相同的文件夹中创建一个名为“zernike.dat”的文件。如果在记事本中打开此文件,您将看到: q" sed]
]i ,{
/quc}"__
^{;oM^Q'
{|_M
#w~&
此文件包含泽尼克标准相表面所需的所有数据。第一个数字是 Zernike 项的数量,然后是归一化半径,然后是每个 Zernike 项。额外数据编辑器的导入工具可以直接读取此文件。 ]]9R mh=
V0.vQ/
vB|hZTW
返回到近轴等效透镜文件。在 Surface 2 属性的“导入”选项卡中浏览并打开 zernike.dat 文件: Tc &z:
tla
5B_
cyv`B3}
^"1n4im
YPK(be_|I
按“导入”按钮,成功导入数据后将出现Zemax消息框: >xYpNtEs
)<;Y-u.UW
KNpl:g3{<Q
_] sn0rX
>#~& -3
波前错误现在显示: A) %/[GD2
xU>WEm2
7#ibN!
和点图显示 [-k
~f1%8z
{V$|3m>:*
pW@Pt 3u
E+R1 !.
此文件生成与原始文件相同的光线追踪结果!在随附的zip中,文件“Zernike Equivalent.zmx”显示了完成的系统。此外,文件“Direct Comparison.zmx”将同一文件的原始版本和Zernike版本显示为两种不同的配置。这允许在文件的两个版本之间轻松进行比较。 8 \ +T8(m