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摘要 8a\
Pjk 5UFR^\e 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 C,+Sv- @ =RH_NB 建模任务 wYf9&}k\4 YWfw%p?n" IZ2c<B5& 元件倾斜引起的干涉条纹
QE:%uT Cq7EdK;x t/6t{*-w 元件移位引起的干涉条纹 ] -6=+\]
(5l5@MN DhQYjC[ 文件信息 _&/FO{ F@m Ib)>M`J QfI)+pf
QQ:2987619807
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