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角分辨散射光测量服务承接 角分辨散射测量法及其应用 利用光散射测量光学粗糙表面是目前发展较为快速和成功的技术，人们对这种技术做了大量的研究工作，使得光散射系统已经成为测量光学元件表面质量的主要手段之一。概括起来，光学表面的散射测量方法主要包括角分辨散射测量法和总积分散射测量法，二者分别以矢量散射理论和标量散射理论为理论基础。角分辨散射(AngleResolvedScattering，简称ARS)测量法是利用散射光的光强及其分布来测量表面粗糙度参数。总积分散射(TotalIntegratedScattering，简称TIS)测量法中，入射光以很小的入射角照射到随机粗糙表面上，用积分球收集粗糙表面散射的漫反射光或者包含镜向反射在内的总体反射光。TIS法一般仪器结构简单、成本低、测量速度快、不易受环境影响，但最主要缺点是无法获得光学表面形貌的全部特征及散射光的空间分布。ARS法虽然仪器结构复杂，成本较高，但能够精确测量光散射的空间分布，并通过其全空间积分，得到表面的总积分散射值，从而能够获取更完整更详细的散射特性。ARS测试如下图：   主要测试设备 ALBATROSS角分辨散射测量仪 波长覆盖范围：325nm~10.6um 样品最大尺寸：700mm 动态范围和噪声：13阶，10-8sr-1 粗糙度灵敏度：<0.1nm 360°全空间测量，并输出结果包括ARS，BSDF，TS，粗糙度等。 联系方式QQ1824712522 分享到：
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