OptiSystem 16.0的关键功能
V:joFRH9 OptiSystem 16.0新增了几个新元件和增强了许多现有的元件
79;<_(Y 新元件包括:
v/ _ Compliance Test Patterns
wRVUu) FBG Sensor
$ ` "" Phi-OTDR
nR*ryv Phi-OTDR Interrogator
~sh`r{0 T:~vk.Or 增强的内容包括:
7<*yS310 OptiSystem16.0可以让用户自定义的IQ-map输入到QAM Sequence Generator, QAM Sequence Decoder, 和Decision中
^~etm 将一个新
参数添加到Decision元件中,称为“Decision Error Accuracy”,它控制EVM值
j:v@pzTD 在Parabolic-Index Multimode fiber和Measured-Index Multimode Fiber元件的结果中增加了近似的导模数
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v+t# OptiSystem16.0中增加了瑞利后向散射(RBS)的时域表示。在
光纤的输入端精确测量随机产生的RBS噪声功率。RBS在频域中也表示为参数信号
|!4K!_y 在Visualizer库中创建一个名为M-ary的新子目录,并重新组织“Visualizer库”中组件的位置以更好地显示它们。 此外,在“Optical”,“Electrical”,“Binary”和“M-ary”目录中创建“Compare”子目录,其中相关的Compare观察仪移动到子目录中。
YuO.yh_ 当使用Convert to optical individual Samples或者扫描功能时,View Signal Visuallzer新增了一个选项来把所有采样/迭代。通常,会显示一个采样,并可以导出为xxxxx.txt或excel文件。新选项卡称为Export All Signal Indices 来输出为xxxxx.txt 或者 excel file”
z:wutqru 在案例库中添加一个数据文件,该数据文件表示“Single Drive MZ Modulator Absorption-Phase”和“Dual Drive MZ Absorption-Phase”元件的吸收和相位曲线中的使用数据,以允许用户加载/编辑它
,5h)x"s a^I\ /&aw' 新的库元件以及主要加强
XuFYYx~ ^3 Phi-OTDR:
K|[*t~59 OptiSystem 16.0的Sensor库中新增了Phi-OTDR和Phi-OTDR Interrogator。这些元件可用于感测多个振动,并询问测量在不同位置经历单个或多个振动的光纤的瑞利背反射信号。图1显示了PhiOTDR和Phi-OTDR Interrogator的项目布局,用于测量100m单模光纤(SMF)位于不同位置(20m,40m和60m)的三种振动(100Hz,400Hz和600Hz)。Phi-OTDR询问器分析收集的SMF的瑞利背反射信号,并显示振动的频率和每个振动的位置,如图2和图3所示。
-Ps!LI{@ JJN.ugT}1 图1.使用Phi-OTDR的光学振动传感器的项目布局
;>Ib^ov 图2.计算出100m SMF的振动频率
ZpQ)IHA. 图3.100m SMF的振动位置
"]}
bFO7C FBG Sensor
Iy&!<r7:]0 FBG Sensor允许用户根据供应商提供的实际物理参数设计光纤布拉格光栅(FBG),以执行温度,应力和应变传感。该元件还可用于合成FBG的测量数据以找到其物理参数。图4显示了用于检测FBG Sensor元件温度变化的示意图。图5显示了当温度在10°C和50°C之间变化时FBG传感器的透射和反射
光谱。
fumm<:<CLO fb e[@#: 图4.用于FBG传感器组件温度传感的原理图布局
\XZ/v*d0
图5.用于检测温度变化的FBG传感器组件的透射和反射光谱特性。
``hf=`We Compliance Test Patterns:
;@oN s- Compliance Test Patterns元件可用于创建标准的抖动模式,以测试不同
光子器件的容差。元件中实现的默认模式是CJTPAT,CRPAT和CSPAT,如图6所示。该元件还允许用户通过添加不同的字节和每个序列重复的次数来编辑这些模式,如图7所示。用户可以在此组件中加载自己的模式。
Hx?;fl'G% NXrJfp 图6.Compliance Test Patterns元件中实现的合规性抖动模式的字符串
k5'Vy8q 图7.Pattern String Editor用于编辑抖动模式和序列扫描的数量。
a.k.n< 应用更新
b gK}-EU 案例文件夹(OptiSystem 16.0 案例)已经更新以下几条
s Z].8. a. 添加了新案例来解释Compliannce Test Patterns元件的操作。 Compliance Test Patterns for pin jitter testing.osd案例位于C:\ Users \ USERNAME \ Documents \ OptiSystem 16.0 Samples \ Optical receiver design and analysis \ Jitter analysis \
QTk}h_<u b. 最初的案例“8B 10B sequence Generator.osd”通过添加新的观察仪来改进,以便更好地理解结果。 添加“View Signal Visualizer”和“Dual Port Binary Sequence Visualizer”以允许查看输入和输出比特序列及其相关脉冲。 修改后的案例位于C:\ Users \ USERNAME \ Documents \ OptiSystem 16.0 Samples \ ComponentSample files\ Transmitters Library \ Coders \
V Y7[) c. 增加了展示8B / 10B编码信号传输的新例子。文件名是“8B10B Sequence Generator Decoder.osd”。 新案例位于C:\ Users \ xUSERNAME \ Documents \ OptiSystem 16.0 Samples \ Component sample file\ Transmitters Library \ Coders \
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