在高端光学制造领域，光学镀膜的性能直接影响元件的透射、反射、偏振及整体光学表现。如何在超宽波长范围内，精准获取镀膜的实际光学性能？如何在不同入射角（AOI）和偏振条件下，实现高效、可靠的测量？
　　　　
　　
　　现在，一款突破传统测量边界的专业设备，为这些挑战提供了全新解决方案。
　　
　　PHOTONRTUV-VIS-MWIR扫描分光光度计，凭借独特的UV-MWIR（220–5200nm）偏振测量能力，以及业内领先的自动化测量技术，为光学镀膜研发、性能表征和质量控制带来全新可能。
　　
　　这不仅是一台分光光度计，更是深入了解光学镀膜实际性能的独特机会！
　　
　　一台仪器，覆盖185–5200nm超宽光谱范围
　　
　　PHOTONRTUV-VIS-MWIR专为含涂层光学样品的无人值守测量而设计，提供六种不同有效波长范围的配置方案，覆盖从185nm到5200nm的测量需求。
　　

　　
　　其突出特点在于：
　　
　　超宽波长覆盖：
　　
　　单台仪器最高可实现185–5200nm的超宽光谱配置。
　　
　　UV-MWIR偏振测量：
　　
　　具备220–5200nm范围内的偏振测量能力，为研究镀膜在不同偏振条件下的光学响应提供独特手段。
　　
　　多角度测量：
　　
　　支持不同入射角（AOI）下的涂层性能表征。
　　
　　全面性能分析：
　　
　　深入研究光学镀膜在不同波长、入射角和偏振状态下的真实表现。
　　
　　从紫外到中红外，一台设备即可满足多波段光学镀膜测试需求，大幅拓展光学性能分析的边界。
　　　　
　　
　　八大核心优势，重新定义光学镀膜测量体验
　　
　　01｜创纪录的超宽波长范围
　　
　　单台仪器最高支持185–5200nm波长范围配置，跨越紫外、可见光、近红外及中红外区域，减少多台设备组合测量的需求。
　　
　　02｜测量速度提升10倍以上
　　
　　与市场上的其他测量工具相比，测量速度提高10倍以上，显著提升研发和质量检测效率，让更多时间投入到产品优化与技术创新中。
　　
　　03｜改变入射角，无需重新校准基线
　　
　　在改变入射角（AOI）后，无需重新进行基线校准，简化复杂测量流程，提升多角度测试的效率与便利性。
　　
　　04｜同一区域完成透射率与绝对镜面反射率测量
　　
　　能够在基板上的同一区域测量透射率和绝对镜面反射率，为薄膜设计的反向分析提供重要数据支持。
　　
　　让镀膜设计不再仅仅依赖理论模拟，而是能够结合实际测量结果进行深入分析与优化。
　　
　　05｜先进测量通道头，满足复杂测量需求
　　
　　采用先进的测量通道头设计，能够表征不同入射角（AOI）、不同偏振条件下的涂层性能。
　　
　　其强大的机械结构支持广泛的光束偏差范围，光束位移可达±60.0mm，为复杂光学元件的测量提供更高灵活性。
　　
　　06｜复杂棱镜全自动无人值守测量
　　
　　专为复杂单元件和胶合棱镜测量设计，无需人工持续干预，即可实现多种复杂棱镜的自动化测量。
　　
　　支持的棱镜类型包括：
　　
　　分光镜
　　
　　道威棱镜
　　
　　直角棱镜
　　
　　五角棱镜及半五棱镜
　　
　　菱形棱镜
　　
　　屋脊棱镜
　　
　　施密特棱镜
　　
　　Pechan棱镜
　　
　　无论棱镜处于安装还是卸载状态，均可进行相应的自动化测量，大幅拓展设备的应用范围。
　　
　　07｜全自动测量，减少人为误差
　　
　　通过全自动程序执行测量任务，减少人工操作环节，从根本上降低测量过程中的人为错误，提高测试结果的一致性与可靠性。
　　
　　08｜静音平稳的自动升降盖设计
　　
　　配备专门设计的自动升降盖机构，运行过程安静、平稳，为日常实验室操作带来更舒适、便捷的使用体验。
　　
　　让复杂光学测量变得简单、高效、可靠
　　
　　PHOTONRTUV-VIS-MWIR扫描分光光度计尤其适用于对光学镀膜性能有高要求的研发与检测场景。
　　
　　无论是多波段光学镀膜研发、不同AOI条件下的性能表征，还是复杂棱镜的透射率与反射率测量，都能通过其宽光谱覆盖、偏振测量和全自动化技术获得有力支持。
　　
　　对于追求更高测量效率、更全面光学性能数据以及更深入镀膜分析能力的企业和科研机构而言，它将成为光学研发与检测领域的重要工具。
　　
　　现在，开启您的光学镀膜性能深度探索之旅！
　　
　　真正了解一款光学镀膜的性能，不仅要看它在某个波长下的表现，更要了解它在不同波长、入射角和偏振条件下的真实响应。
　　
　　PHOTONRTUV-VIS-MWIR，以超宽光谱覆盖、独特偏振测量能力和高度自动化的测量体