FRED高级-工程案例设计与分析
本课程基于机载紫外-可见光成像光谱仪的特殊性和实际应用要求,提出采用面阵CCD的摆扫式成像光谱仪,能够满足大视场、宽谱段、高分辨率成像光谱仪的应用要求。
时间地点: 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司(微信公众号:infotek);常熟黉论教育咨询有限公司(微信公众号:honglun-seminary) 授课时间:11月13(三)-14(四) AM 9:00-PM 16:00 授课地点:上海市普陀区武威路88弄中鑫企业广场21号楼A座2楼(黉论上海培训室) 课程讲师:讯技光电高级工程师 课程费用:3600RMB(包含课程材料费、开票税金、午餐费用) 专场(一)-紫外、可见光成像光谱仪 授课时间:11月13日(三)AM 9:00-16:00 课程简介: 大视场、高分辨率机载紫外-可见光成像光谱仪对获得对流层示踪气体总量,从未监测对流层污染现象至关重要。本课程基于机载紫外-可见光成像光谱仪的特殊性和实际应用要求,提出采用面阵CCD的摆扫式成像光谱仪,能够满足大视场、宽谱段、高分辨率成像光谱仪的应用要求。本设计光谱仪的波长范围为200-500nm,光谱成像系统采用分波段分系统的方式独立进行光谱成像,200-310、310-500nm采用CT光栅光谱仪成像。 示例图 专场(二)-光学系统杂散光分析 授课时间:11月14日(一)AM 9:00-16:00 课程大纲: 当在复杂的光照环境内使用的时候,摄影摄像镜头都受到杂散光的影响。所谓杂散光就是那些不是按照镜头设计师设想的路径在镜头内传播的光线。作为一个设计完善制造完美的镜头,应该不受杂散光影响的:问题在于世界上没有完美的镜头,任何实际制造的镜头都会存在杂散光的影响,不受杂散光影响的镜头只存在于纸面上。 本专场讨论了基于单反射相机的光学设计、杂散光和表面粗糙度的要求和光机设计,包括; □ 关键物体的识别 □ 预估杂散光背景 □ 离轴抑制特性 □ 鬼像的形成 |
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